• 書名構造解析
• 書名ヨミコウゾウカイセキ

• 著者名朽津耕三編集
• 著者ヨミニホンカガクカイ

• 叢書名新実験化学講座
• 叢書番号6
• 副叢書名基礎技術
• 副叢書番号5

• 出版地東京
• 出版者丸善
• 出版年1977.4

• ページxv, 585p
• サイズ22cm

• 件名化学 -- 実験
  結晶構造 -- 実験

• 目次１　結晶の形態と光学的性質1
  　1.1　結晶の対称性とその外的出現1
  　　　　　まえがき1
  　　　　　対称操作と対称の要素2
  　　　　　点群とその表示方法4
  　　　　　結晶の外形とその測定7
  　　　　　結晶の性質と対称性13
  　1.2　結晶の光学的性質17
  　　　　　結晶の光学的性質17
  　　　　　光学顕微鏡による観察と測定20
  ２　回折理論と結晶の対称27
  　2.1　結晶格子27
  　　　　　空間格子と単位胞27
  　　　　　格子面と晶帯28
  　　　　　格子の乱れ29
  　2.2　結晶による X線回折の理論30
  　　　　　X線の基本的性質30
  　　　　　散乱因子と散乱ベクトル32
  　　　　　原子散乱因子33
  　　　　　結晶によるX線の回折36
  　　　　　構造因子の表現(Ⅰ)40
  　　　　　積分反射強度41
  　　　　　結晶の乱れと散漫散乱45
  　2.3　結晶構造の対称46
  　　　　　結晶構造の対称要素47
  　　　　　結晶の属する点群と単位胞の選択50
  　　　　　空間群53
  　　　　　結晶学的同価位置と非対称単位58
  　2.4　逆空間の対称と空間群の判定60
  　　　　　構造因子の表現(Ⅱ)60
  　　　　　フリーデルの法測61
  　　　　　点群による等価反射62
  　　　　　同折の対称と空間群の判定65
  　　　　　異常分散の影響70
  　　　　　結晶の対称と強度の統計72
  ３　単結晶によるX線回折の実験77
  　3.1　X線の発生77
  　　　　　X線発生装置77
  　　　　　特殊 X線発生装置80
  　　　　　X線の単色化81
  　　　　　X線のコリメーション84
  　3.2　X線回折写真84
  　　　　　試料の取付け84
  　　　　　振動写真85
  　　　　　ワイセンベルグ写真88
  　　　　　プリセッション写真93
  　3.3　回折写真から回折強度を求める方法96
  　　　　　はじめに96
  　　　　　目測による強度測定98
  　　　　　ミクロデンシトメーターの利用99
  　　　　　回折強度の補正99
  　3.4　単結晶X線回折計101
  　　　　　はじめに101
  　　　　　計数管102
  　　　　　四軸型回折計102
  　3.5　特殊条件下での回折実験108
  　　　　　低温でのX線回折実験108
  　　　　　高温でのX線回折実験109
  　3.6　格子定数の求め方110
  　　　　　格子定数の決定110
  　　　　　格子定数の精密化111
  　3.7　半導体検出器とその利用113
  　　　　　半導体検出器の特徴113
  　　　　　SSD回折計115
  　　　　　SSD回折計の応用分野117
  　3.8　熱散漫散乱118
  ４　X線結晶解析121
  　4.1　どのようにして結晶構造を決めるか121
  　　　　　結晶解析の目標121
  　　　　　結晶解析の基本的考え方123
  　　　　　結晶解析の実際130
  　　　　　結晶解析の結果134
  　4.2　フーリエ級数法の利用138
  　　　　　はじめに138
  　　　　　フーリエ級数法の理論139
  　　　　　パターソン関数法143
  　　　　　フーリエ級数の求和の計算法の実際148
  　　　　　フーリエ合成の計算結果の表現法151
  　4.3　直接法153
  　　　　　はじめに153
  　　　　　直接法の原理155
  　　　　　原点の指定168
  　　　　　直接法の使い方179
  　4.4　原子パラメーターの精密化と精度198
  　　　　　はじめに198
  　　　　　最小二乗法による非線形関数の最適化198
  　　　　　パラメーターの最確値と標準偏差199
  　　　　　パラメーターと微分係数202
  　　　　　逆行列の計算204
  　　　　　精密化の技法と注意206
  　　　　　パラメーターの追加と精密化の終点214
  　　　　　誤差の診断217
  　　　　　精密化における系統誤差の影響220
  　　　　　分子パラメーターの計算と結果の検定221
  　　　　　熱振動の影響228
  　4.5　電子密度分布232
  　　　　　差の電子密度232
  　　　　　測定，解析上の問題点234
  　　　　　結果の整理237
  　4.6　絶対構造の決定238
  　　　　異常分散を応用する絶対構造決定の原理238
  　　　　　絶対構造決定の実際240
  　4.7　散漫散乱245
  　　　　　格子振動246
  　　　　　格子不整による散漫散乱248
  　4.8　いろいろな失敗について251
  　　　　　単位胞を誤った例251
  　　　　　結晶系を誤った例252
  　　　　　空間群を誤った例252
  　　　　　反射数の不足253
  　　　　　分子配向の乱れ254
  　　　　　最小二乗法による精密化255
  ５　生体高分子結晶の構造解析257
  　5.1　解析のあらすじ258
  　　　　　タンパク質，核酸の単結晶の特徴258
  　　　　　多重重原子同形置換法の原理259
  　　　　　解析のあらすじ260
  　5.2　実験法260
  　　　　　結晶の調製260
  　　　　　重原子導入法262
  　　　　　回折強度測定265
  　　　　　フローセル法270
  　5.3　解析法271
  　　　　　重原子位置決定271
  　　　　　位相角決定と電子密度図作製277
  　　　　　同形置換法以外の方法283
  　5.4　モデル作製285
  　　　　　立体モデル作製285
  　　　　　精密化と分解能の拡張287
  　5.5　基質の結合と化学修飾（差フーリエ法）290
  　5.6　解析の限界，信頼度，精度292
  　5.7　二，三の解析例294
  　　　　　チトクロームc294
  　　　　　リボヌクレアーゼ（Rnase）297
  　　　　　ホスホグリセリキナーゼ299
  　　　　　トリプシンインヒビター300
  　　　　　tRNA301
  ６　中性子回折305
  　6.1　中性子線の散乱の特徴305
  　　　　　はしがき305
  　　　　　中性子線306
  　　　　　中性子線の吸収と散乱306
  　　　　　原子による散乱307
  　　　　　結晶による回折310
  　6.2　中性子回折の装置と実験法311
  　　　　　中性子線の線源311
  　　　　　中性子回折の方法312
  　　　　　中性子回折装置313
  　　　　　回折実験法315
  　　　　　測定強度の補正319
  　6.3　中性子回折の応用と実際321
  　　　　　構造解析の実例321
  　　　　　X線を併用した構造解析324
  　　　　　TOF 法の応用例326
  　　　　　構造解析の将来展望326
  ７　電子顕微鏡と電子線回折331
  　7.1　電子線の性質331
  　　　　　電子線の波長331
  　　　　　電子の原子散乱因子332
  　7.2　電子線回折の特徴334
  　　　　　電子線回折の逆格子による解釈334
  　　　　　電子線の回折強度338
  　7.3　透過型電子顕微鏡の構成と機能342
  　　　　　電子顕微鏡の構成342
  　　　　　電子レンズと収差344
  　　　　　電子レンズによる結像と機能347
  　　　　　電子顕微鏡の分解能(Ⅰ)351
  　7.4　試料作成法と観測352
  　　　　　試料用支持膜352
  　　　　　薄片結晶試料作成法354
  　　　　　電子顕微鏡の倍率校正法356
  　7.5　電子顕微鏡における電子線回折357
  　　　　　試料の構成と電子線回折像358
  　　　　　物質の同定，面間距離，格子定数の測定361
  　　　　　結晶の配向と晶癖364
  　　　　　結晶構造の解析365
  　7.6　電子顕微鏡像のコントラスト368
  　　　　　等傾角干渉図形368
  　　　　　転位のコントラスト371
  　　　　　等厚干渉縞372
  　7.7　高分解能電子顕微鏡像374
  　　　　　電子顕微鏡の分解能(Ⅱ)374
  　　　　　格子像の形成376
  　　　　　格子像による結晶の微細構造の研究例380
  　　　　　単位胞内の構造と分子像の観察384
  　　　　　電子顕微鏡の特性と分子像の分解能386
  　　　　　分子像の再合成と構造因子の位相の保存性391
  　　　　　電子線損傷394
  　7.8　走査型電子顕微鏡395
  　　　　　SEMの原理および構造395
  　　　　　SEM像の形成397
  　　　　　SEMの性能399
  　　　　　試料の調製400
  　　　　　結晶性試料の観察401
  　　　　　透過型走査電子顕微鏡403
  　7.9　気体電子線回折408
  ８　質量スペクトル409
  　8.1　質量スペクトルと装置409
  　　　　　質量分析装置と質量スペクトルの例409
  　　　　　質量スペクトルの特質413
  　　　　　装置415
  　　　　　装置の種類，特質418
  　8.2　理論424
  　　　　　準平衡理論424
  　　　　　分子軌道理論430
  　8.3　イオン化電圧および出現電圧435
  　　　　　実験上の一般的な注意436
  　　　　　電子衝撃法による IP，AP の測定437
  　　　　　フラグメントイオンの運動エネルギーを考慮したAPの測定449
  　　　　　光イオン化法による IP，AP の測定450
  　8.4　負イオンの測定454
  　　　　　磁場単収束型質量分析計による負イオン測定法454
  　　　　　電子衝撃による負イオン生成456
  　　　　　負イオン・質量スペクトル457
  　　　　　負イオンを測定するときの注意事項458
  　8.5　運動エネルギーをもつイオンのスペクトル461
  　　　　　メタステーブルイオンの利用IKEスペクトル461
  　　　　　KE質量スペクトル465
  　8.6　固体質量分析469
  　　　　　はじめに469
  　　　　　イオン化方式と質量分析装置470
  　　　　　分析操作および解析法472
  　　　　　電気検出法478
  　　　　　乾板検出法と電気検出法の比較479
  　　　　　固体質量分析法の特徴と問題点480
  　8.7　イオンマイクロアナライザー481
  　　　　　スパッタリング現象の概略481
  　　　　　装置の概要483
  　　　　　IMAから得られる情報485
  　　　　　定量分析法486
  ９　電子分光法489
  　9.1　序論489
  　9.2　電子分光実験法493
  　　　　　電子分光実験装置の構成493
  　　　　　電子エネルギー分析器と電子レンズ493
  　　　　　電子の検出とスペクトルの記録505
  　　　　　外部磁場の打消し，しゃへいと分光器材料の消磁508
  　　　　　真空排気系509
  　　　　　試料処理と導入510
  　9.3　紫外光電子分光法511
  　　　　　紫外光電子分光の実験方法511
  　　　　　光電子スペクトルの解釈と応用514
  　9.4　X線光電子分光法533
  　　　　　X線光電子分光の実験方法533
  　　　　　X線光電子スペクトルの解釈538
  　9.5　電子衝撃分光法545
  　　　　　はじめに545
  　　　　　電子衝撃分光の実験方法545
  　　　　　電子衝撃スペクトルの解釈549
  　9.6　オージェ電子分光法553
  　　　　　オージェ電子分光の実験方法553
  　　　　　オージェ電子スペクトルの解釈554
  　9.7　ペニングイオン化電子分光法561
  　　　　　はじめに561
  　　　　　ペニングイオン化電子分光の実験方法562
  　　　　　ペニングイオン化電子スペクトルの解釈563
  　9.8　その他の電子分光法565
  　　　　　はじめに565
  　　　　　イオン中性化電子分光法566
  　　　　　重粒子衝撃電子分光法569
  　　　　　化学電子分光法570